PANalytical Aeris X-Ray Diffractometer (XRD)

Aeris X-Ray Diffractometer (XRD) merupakan instrumen analisis yang digunakan untuk mengidentifikasi fase kristal, menentukan struktur kristalin, serta menganalisis komposisi mineral dan material padat menggunakan metode difraksi sinar-X (X-Ray Diffraction). Instrumen ini banyak dimanfaatkan dalam penelitian material, geologi, pertambangan, keramik, logam, semen, farmasi, dan nanoteknologi karena mampu memberikan hasil analisis yang akurat dan andal sesuai standar internasional.

Persyaratan Analisis

1. sampel yang dibawa min. 5 gr
2. sampel yg dibawa dalam keadaan kering
3. sampel dalam keadaan bubuk dengan ukuran min. 100 mesh
4. pastikan label sampel sudah sesuai dan tidak mudah luntur
5. jika sampel akan di lanjutkan untuk analisis dengan instrumen lainnya harap pisahkan wadah/tempat sampel dan berikan keterangan

Biaya Analisis
Raw data
Internal UNTAD 150k/ sampel
Eksternal 250k/sampel

Analisis Mineral
Internal UNTAD 200k/ sampel
Eksternal 300k/sampel

Indeks Kristalinitas
Internal UNTAD 350k/ sampel
Eksternal 450k/sampel