Scanning Electron Microscope (SEM)

Scanning Electron Microscope (SEM) merupakan instrumen analisis yang digunakan untuk mengamati morfologi dan karakteristik permukaan material dengan resolusi tinggi menggunakan berkas elektron. SEM mampu menghasilkan citra detail mikrostruktur sampel serta memberikan informasi mengenai ukuran partikel, bentuk permukaan, porositas, retakan, dan karakteristik material lainnya.

Instrumen ini banyak dimanfaatkan dalam penelitian material, geologi, pertambangan, biologi, pertanian, metalurgi, serta pengembangan material maju.

Persyaratan Analisis

1. Sampel yg dibawa max 5 gr (untuk sampel powder min. 2 gr)
2. Sampel kering
3. Label pada sampel harus sesuai dan jelas
4. Sampel padat ukuran 1 x 1 x 1 cm (Permukaan harus rata)

Biaya Analisis
Morfologi
Internal UNTAD 300k/ sampel
Eksternal 350k/sampel

EDS
Internal UNTAD 400k/ sampel
Eksternal 450k/sampel

Mapping
Internal UNTAD 500k/ sampel
Eksternal 550k/sampel